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DUALSCOPE FMP40測厚儀安裝指導(dǎo) 安裝指導(dǎo)： 一．安裝PC-Datex軟件。安裝結(jié)束后，打開Microsoft Excel，點(diǎn)擊工具菜單欄下的加載宏選項(xiàng)， 再按瀏覽鍵，在剛才的安裝目錄下找到并點(diǎn)擊PcDatex95后按確定，此時(shí)應(yīng)出現(xiàn)如下窗口： -
X-RAY XAN310熒光射線材料分析及鍍層測厚儀 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性價(jià)比的緊湊入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，用于快速、無損分析鍍層厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。 -
菲希爾XDLM-pcb200 來自德國菲希爾Fischer的XDLM-PCB測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級(jí)、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測量儀器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅(jiān)固耐用的入門級(jí)儀器。 -
德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。 -
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
